雷達(dá)液位計(jì)測(cè)量原理為：天線收到雷達(dá)脈沖反射信號(hào)后，把反射信號(hào)送到儀器中去，由儀器中微處理器分析信號(hào)來(lái)確定材料表面雷達(dá)脈沖信號(hào)真實(shí)回波。儀器至材料表面距離正比于脈沖信號(hào)在材料表面?zhèn)鞑サ臅r(shí)間。同時(shí)雷達(dá)波對(duì)液體表面反射強(qiáng)度也與液體介電常數(shù)相關(guān)，液體介電常數(shù)越大，反射越大，波強(qiáng)度越大，透射越小。

通常情況下，干擾回波主要分為三類，一是異物回波問(wèn)題，異物回波是由實(shí)際測(cè)量時(shí)雷達(dá)天線波束角所限導(dǎo)致雷達(dá)波實(shí)際傳播方向?yàn)樯刃嗡穑绻迌?nèi)存在異物或者液面降低后攪拌器與液面碰撞時(shí)會(huì)產(chǎn)生較強(qiáng)的異物回波。第2種為多重回波，液面接近天線發(fā)射端后，因回波強(qiáng)度較大，反射波在罐頂與液面之間產(chǎn)生多次反射而產(chǎn)生多重回波。第3種為罐底回波，液面靠近罐底時(shí)因液位降低，液體消耗雷達(dá)波較少，于是一部分雷達(dá)波通過(guò)液面并將水箱底部反射到液面上，形成罐底回波。在通常所測(cè)介質(zhì)介電常數(shù)較大的情況下，這類罐底回波是不存在的。

針對(duì)干擾回波問(wèn)題，在這兩種情況下都能得到有效的抑制。一是靜態(tài)的干擾回波抑制算法，主要有固有噪聲曲線法、特定抑制曲線法等。前者以抑制低強(qiáng)度、小強(qiáng)度回波及多重回波為主，并以去除罐內(nèi)在干擾噪聲。通常情況下，底部回波與多重回波之間的振幅不大于固有噪聲曲線之間的振幅，但液位位于儲(chǔ)罐底部與頂部時(shí)除外。對(duì)于后一種情況，對(duì)異物回波來(lái)說(shuō)，例如雷達(dá)波對(duì)擋板及罐壁焊縫的沖擊，回波就會(huì)很大，通常超過(guò)固有噪聲曲線強(qiáng)度，所以，對(duì)這類回波當(dāng)儀器投入使用后，調(diào)試階段須在變送器內(nèi)固有噪聲曲線上繪出具體抑制曲線。規(guī)定僅在回波強(qiáng)度超過(guò)抑制曲線具體強(qiáng)度時(shí)方判斷為真實(shí)回波。第二種是動(dòng)態(tài)多通道回波矢量追蹤算法，動(dòng)態(tài)算法在大數(shù)據(jù)分析的基礎(chǔ)上對(duì)測(cè)量范圍內(nèi)每一個(gè)回波進(jìn)行標(biāo)記追蹤，合理地說(shuō)，不論物位振幅在抑制或離開抑制時(shí)均無(wú)波損存在。

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